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v 主要應(yīng)用：
? 粉末樣品的物相定性與定量分析
? 計算結(jié)晶化度、晶粒大小
? 確定晶系、晶粒大小與畸變
? Rietveld定量分析
? 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
? In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
? 小角散射與納米材料粒徑分布
? 微區(qū)樣品的分析
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