v 作為現(xiàn)成的測量解決方案，PD1500A 可以對寬帶隙半導體進行可靠且可重復的測量。 該平臺不僅可以確保用戶的安全性，還能夠保護系統(tǒng)的測量硬件

v 能夠可靠、可重復測量寬帶隙（SiC、GaN）功率半導體的動態(tài)特征

v 測量的特征包括開啟、關(guān)閉、開關(guān)切換、反向恢復、柵極電荷以及其他許多特征

v 同時滿足被測器件和用戶對測試環(huán)境的要求

v 模塊化平臺可擴展、可升級，能夠?qū)λ泄β势骷M行測試

v 這種確保 DPT 結(jié)果可重復的能力依托于是德科技的專業(yè)測量技術(shù)， 例如在高頻測試（GHz 級）、低泄漏（飛安級）和脈沖功率（1,500 A 電流、10 μs 分辨率）等方面的創(chuàng)新。 這些創(chuàng)新使是德科技占據(jù)優(yōu)勢，可以有力地幫助您克服在動態(tài)功率半導體表征方面的挑戰(zhàn)

v PD1500A 采用的均是標準的測量技術(shù)，例如探頭補償、偏置調(diào)整、偏移校正和共模噪聲抑制。 這些技術(shù)已在創(chuàng)新的測量拓撲和版圖中使用。 另外，我們專門為本系統(tǒng)開發(fā)了半自動校準例程（AutoCal），用于校正系統(tǒng)增益和偏置誤差。 該系統(tǒng)還使用去嵌入技術(shù)來補償分流器中的電感寄生效應